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JEOL ha annunciato il lancio di JSM-IT700HR, un nuovo microscopio elettronico a scansione.

I microscopi elettronici a scansione trovano impiego in vari settori, tra cui nanotecnologia, metalli, semiconduttori, ceramiche, medicina e biologia. Inoltre, gli ambiti di applicazione della microscopia elettronica a scansione si stanno espandendo per includere il controllo della qualità e attività basilari di ricerca. Si sta assistendo a una crescita della domanda di capacità di acquisizione più rapida dei dati di immagini SEM di qualità superiore e di conferma più semplice dei dati composizionali.

Basato sulla premiata serie precedente di SEM “InTouchScope”, il JSM-IT700HR è dotato del nostro cannone elettronico in emissione di campo incorporato nell’obbiettivo Schottky.

JSM-IT700HR offre un’alta risoluzione di 1 nm e una corrente massima della sonda di 300 nA, fornendo una vasta gamma di informazioni di osservazione e analisi. Un’interfaccia utente semplice da usare, il design compatto che ospita una grande camera del campione, con un rinnovato supporto antivibrante per la console principale consente di osservare e analizzare in modo più confortevole di prima.
Per migliorare il “funzionamento semplice”, JSM-IT700HR incorpora una nuova funzione, integrata nella GUI SEM, per visualizzare la profondità di generazione dei raggi X caratteristica. Ciò supporta una pronta comprensione della profondità di analisi per il campione, utile per l’analisi elementale.
Sono disponibili 2 configurazioni, 1) JSM-IT700HR / LV per l’osservazione di immagini in alto e basso vuoto, 2) JSM-IT700HR / LA con sistema JEOL EDS integrato aggiuntivo.

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