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JEOL annuncia il lancio di un nuovo...

JEOL rilascia il nuovo microscopio elettronico analitico a forza atomica ad altissima risoluzione JEM-ARM300F2

JEOL annuncia il lancio di un nuovo microscopio elettronico analitico a forza atomica ad altissima risoluzione, il JEM-ARM300F2, nel mese di febbraio del 2020. Alla Electron Microscopy un gran numero di microscopisti e ingegneri ha continuato a migliorare a risoluzione. Nel frattempo, JEOL ha fatto il possibile per migliorare la stabilità del microscopio elettronico a trasmissione. Abbinando le tecnologie di correzione delle aberrazioni a tali migliorie, siamo riusciti a ottenere un’altissima risoluzione. Il JEM-ARM300F è un TEM a risoluzione atomica focalizzato sul raggiungimento della migliore risoluzione...
Redazione -
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