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JEOL annuncia il lancio di un nuovo microscopio elettronico analitico a forza atomica ad altissima risoluzione, il JEM-ARM300F2, nel mese di febbraio del 2020.

Alla Electron Microscopy un gran numero di microscopisti e ingegneri ha continuato a migliorare a risoluzione. Nel frattempo, JEOL ha fatto il possibile per migliorare la stabilità del microscopio elettronico a trasmissione. Abbinando le tecnologie di correzione delle aberrazioni a tali migliorie, siamo riusciti a ottenere un’altissima risoluzione.

Il JEM-ARM300F è un TEM a risoluzione atomica focalizzato sul raggiungimento della migliore risoluzione possibile. Ma le richieste del moderno TEM includono la caratterizzazione non solo di materiali duri ma anche di materiali morbidi. In queste circostanze, gli utenti TEM richiedono una risoluzione e un’analisi ulteriormente migliorate con un livello di precisione più elevato.

JEOL ha sviluppato un nuovo TEM, il JEM-ARM300F2, che soddisfa queste richieste. Questo TEM analitico ad altissima risoluzione atomica ha molte caratteristiche. In particolare, con un nuovo polipo con obiettivo, “FHP2”, il GRAND ARM 2 raggiunge una combinazione ottimale di imaging a risoluzione atomica di altissima qualità con analisi elementale EDS ad angolo solido di prim’ordine.

La configurazione standard di GRAND ARM 2 include un involucro che mitiga i disturbi esterni, portando così a una maggiore stabilità dello strumento.

Rispetto al precedente FHP, l’FHP2 offre una maggiore efficienza di rilevamento dei raggi X, più del doppio di quella dell’FHP.
Un basso coefficiente ottico, un basso coefficiente Cc e un basso coefficiente Cs consentono di eseguire un’elevata risoluzione spaziale e un’analisi a raggi X ad alta sensibilità su una gamma di tensioni di accelerazione.

2. Il Wide Gap Polepiece (WGP) per l’obiettivo consente l’analisi a raggi X ad altissima sensibilità.
Questo polipo, con un ampio spazio tra il polo superiore e il polo inferiore, presenta i seguenti vantaggi: il WGP consente di avvicinare gli SDD ad ampia area al campione, ottenendo un’analisi a raggi X ad altissima sensibilità; il WGP è in grado di alloggiare porta-campioni più spessi, consentendo vari tipi di esperimenti in situ.

I correttori di aberrazione sferica sviluppati da JEOL sono integrati nella colonna del microscopio e forniscono una risoluzione spaziale molto elevata. In combinazione con FHP2, il GRAND ARM 2 raggiunge una risoluzione STEM di 53pm a 300kV. In combinazione con il WGP, il GRAND ARM 2 raggiunge una risoluzione STEM di 59pm a 300kV.
JEOL COSMO consente di eseguire la correzione dell’aberrazione in modo rapido e semplice.

4Di serie viene fornita una pistola per emissione di campi freddi.
Il GRAND ARM 2 è dotato di un Cold-FEG che fornisce una diffusione di energia minore dalla sorgente di elettroni.

Un recinto che mitiga i disturbi esterni. Questa nuova custodia è standard per ridurre i disturbi esterni come il flusso d’aria, i cambiamenti della temperatura ambiente e il rumore acustico.

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